CT检测原理
工业CT是在射线检测的基础上发展起来的,其基本原理是:让一束X射线投射在物体上,通过物体对X射线的吸收(多次投影)便可获得物体内部的物质分布信息。
当强度为I0的一个窄束X射线穿过吸收系数为的物体时,其强度满足指数衰减关系:
式中为X射线所穿过物质层厚度。在实际情况中,所研究的物体往往不是由单一成分组成的,CT检测报价,当物体由若干个不同成分组成时,物体内部各处的穿透率也将可能不同。
CT检测
图像增强器是一种传统的面探测器,是一种真空器件。名义上的像素尺寸<100μm,直径152~457mm(6~18in)。读出速度可达15~30 帧/s,是读出速度快的面探测器。由于图像增强过程中的统计涨落产生的固有噪声,图像质量比较差,CT检测方案,一般射线照相灵敏度仅为7~8%,在应用计算机进行数据叠加的情况下,射线照相灵敏度可以提高到2%以上。缺点就是易碎和有图像扭曲。面探测器的基本优点是不言而喻的—它有着比线探测器高得多的射线利用率。面探测器也比较适合用于三维直接成像。所有面探测器由于结构上的原因都有共同的缺点,即射线探测效率低、无法限制散射和窜扰、动态范围小等。高能范围应用效果较差。
CT检测应用闪烁体的分立探测器的主要优点
应用闪烁体的分立探测器的主要优点是:闪烁体在射线方向上的深度可以不受限制,从而使射入的大部分光子被俘获,提高探测效率。尤其在高能条件下,CT检测价格,可以缩短获取时间;因为闪烁体是独立的,所以几乎没有光学的窜扰;同时闪烁体之间还有钨或其他重金属隔片,CT检测,降低了X射线的窜扰。分立探测器的读出速度很快,在微秒量级。同时可以用输出脉冲来选通数据采集,限度减小信号上叠加的噪声。分立探测器对于辐射损伤也是不敏感的。