对比试样校准原理
1. 复型测量法 一种间接的测量方法,通过将可塑性材料充满在人工缺陷内,经过凝固成型后取出,对比试样/块校准方案,直观、形象、逼 真地再现人工缺陷的立体形貌,对比试样/块校准,取点、线、断面采用相应精度的量具对人工缺陷长度、宽度、深度测量,获 得人工缺陷的尺寸数据。
2. 显微测量法 直接通过读数显微镜对人工缺陷放大后,以光学成像或聚焦方法瞄准边缘轮廓或表面,通过X、Y、Z轴在缺陷上移动的距离直接测量人工槽的长度、宽度、深度及通孔的直径。
对比试样校准检测
可对管、板、缆索等大范围结构件进行12 kHz~250 kHz的宽频扫查,并可进行频扫图像显示、A扫信号显示和包络显示,可对A扫信号进行DAC(距离-波幅曲线)分析。 由于是在实验室进行对比试块的检测,对比试样/块校准哪家好,考虑到试块需加工内部球孔缺陷,所以取管道原长度的1/2进行加工,由于无法采用传统线圈探头进行检测,所以采用板波探头进行检测,换能器的设计分为柔性和硬性两部分,其中硬性设计的主要功能是信号的输入输出、保护换能器、方便操作人员使用等;柔性部分的主要功能是激励和接收导波信号。
对比试样校准测量方法
覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,对比试样/块校准公司,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有射线源,使用者**遵守射线防护规范。X射线法可测较薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。